應力雙折射測量係統

  • 型   號:WPA-200
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應力雙折射測量係統WPA係列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其光子晶體製造技術開發的產品,獨特的測量技術使其成為*的光學測量產品。該產品在測量過程中可以對視野範圍內樣品一次測量,全麵掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器,適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果,二維圖表可以更直觀的讀取數據。

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WPA-200

應力雙折射測量係統 WPA-200

  WPA係列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其的光子晶體製造技術開發的產品,獨特的測量技術,使其成為*的光學測量產品。 該產品在測量過程中可以對視野範圍內樣品一次測量,全麵掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器,適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果,二維圖表可以更直觀的讀取數據。

 

應力雙折射測量係統 WPA-200主要特點:

  • 操作簡單,測量速度可以快到3秒。

  • 采用CCD Camera,視野範圍內可一次測量,測量範圍廣。

  • 測量數據是二維分布圖像,可以更直觀的讀取數據。

  • 具有多種分析功能和測量結果的比較。

  • 維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。

  • 市場占有率很高的殘餘應力測量設備


主要應用:

· 光學零件(鏡片、薄膜、導光板)

· 透明成型品(車載透明零件、食用品容器)

· 透明樹脂材料(PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC

· 透明基板(玻璃、石英、藍寶石、單結晶鑽石)

· 有機材料(球晶、FishEve


技術參數:

項次

項目

具體參數

1

輸出項目

相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa


2

測量波長

520nm543nm575nm


3

雙折射測量範圍

0-3500nm


4

測量小分辨率

0.001nm


5

測量重複精度

<1nm(西格瑪)


6

視野尺寸

218x290mm-360×480mm(標準)


7

選配鏡頭視野

無選配


8

選配功能

實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控製,CD模式



測量案例:


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